基于分组DS18B20测温系统的设计
资料介绍：
基于分组DS18B20测温系统的设计(中文2200字,英文PDF)
摘要——所有用于多点测试温度的DS18B20传感器，IO总线与单片机连接，并且温度数据是轮流采集的。如果系统有大量的传感器，则单片机用于处理温度数据的时间明显延长，因此交替测试周期较长。本文提出了一种合理组合DS18B20的新方法，并在软件中采取了一些措施。因此，交替测试的速度明显提高。
关键词：DS18B20，温度测量，交替检测耗时
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